T8200PRO-G便携式RFID性能检测试验机

T8200PRO-G便携式RFID性能测试仪

测试原理:磁耦合非接触谐振频率

测量方式:传输/反射特性

检测项目:谐振频率、衰减、Q值、UID、芯片类型(部分)

协议:ISO14443A、ISO14443B ISO15693

数据点:100~2048点

测试时间:无ID读数:0.5秒(典型)，有ID读数:1秒(典型)

日志文件:UID, PASS/FAIL，共振频率，衰减，Q值

波形格式:csv、jpg

频率范围:10KHz~100MHz

应用功率:-30~15dBm

DIO接口(可选):隔离输入/输出

系统要求:PC(OS) Windows7、Windows8.1、Windows10，≥USB2.0

电源:USB总线电源(电流消耗≤500mA)

包装清单:主机、USB线、同轴电缆(500m x2)、高频标准卡尺寸测试夹具、天线板测试可选不同尺寸规格、安装光盘

尺寸重量:125(W)x165(D)x40(H)mm，不包括突出物，0.8kg